形状记忆合金薄板在不同温度下的σ-ε曲线的简便电测法

本文介绍了记忆合金薄板拉伸σ-ε曲线的电测方法。所测板厚在0.5mm～1.5mm范围效果最佳。从自动描绘的拉伸σ-ε曲线上可读出记忆材料在不同温度处由应力诱发马氏体转变所需临界值σ~(P,M);也可得出各温度下伪弹性回复量与形状记忆回复量的相对大小。每测一片试件不超过15分钟。初步解决了在非instron电子拉伸机上测定薄板记忆合金的拉伸σ-ε曲线问题。