基于C8051F060和AD9834的频率响应测试仪设计 |
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引用本文: | 张家田,杨忠华,严正国.基于C8051F060和AD9834的频率响应测试仪设计[J].电子元器件应用,2010,12(10):12-14. |
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作者姓名: | 张家田 杨忠华 严正国 |
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作者单位: | 西安石油大学光电油气测井与检测教育部重点实验室,陕西西安710065 |
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基金项目: | 陕西省科技厅自然科学基金(2007D01) |
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摘 要: | 为了测试电路系统的频率响应特性,通常需要在电路系统输入端加上不同频率的激励,然后再测量电路的输出以得到频率响应函数。文中介绍了由单片机和DDS构成的频率响应测试仪设计方法,同时给出了单片机中的软件处理流程。试验结果表明,本测试仪测量精度高,操作方便。
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关 键 词: | AD9834频率响应 测试仪 单片机 C8051F060 |
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