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基于TEmb和V模型的嵌入式软件测试方案
引用本文:刘淑平,庞灵. 基于TEmb和V模型的嵌入式软件测试方案[J]. 电子测试, 2007, 28(12): 55-57,61
作者姓名:刘淑平  庞灵
作者单位:华北电力大学,计算机学院,河北保定,071003;华北电力大学,计算机学院,河北保定,071003
摘    要:本文主要针对嵌入式软件测试的特点,通过对传统模型V模型的分析,找出V模型的不足,并对其改进.利用TEmb(Testing Embedded software)方法的思想与改进的V模型相结合提出了一种通用的嵌入式软件测试方法.

关 键 词:软件测试  TEmb  改进的V模型

The Test Method of Embedded Software Baesd Temb and Improved V Model
Lou shuping,pangling. The Test Method of Embedded Software Baesd Temb and Improved V Model[J]. Electronic Test, 2007, 28(12): 55-57,61
Authors:Lou shuping  pangling
Abstract:
Keywords:TEmb
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