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| 失效连接器触点表面的SEM和EDS分析 | |
| 引用本文： | 冯萃峰,周怡琳. 失效连接器触点表面的SEM和EDS分析[J]. 电子显微学报, 2004, 23(4): 490-490 |
| 作者姓名： | 冯萃峰 周怡琳 |
| 作者单位： | 北京邮电大学自动化学院电接触科研室,北京,100876 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目 (No .5 0 2 770 0 2 ) |
| 摘 要： | 对某失效通信设备的分析表明，电子连接器的接触故障是其失效的主要原因之一。本文利用SEM和EDS分析故障连接器的接触表面，结合接触电阻测试结果，对其失效机理进行讨论。 |
| 关 键 词： | 电子连接器 接触故障 失效分析 扫描电子显微镜 X射线能谱仪 |
Analysis of the contact surface on failed connectors by SEM and EDS |
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| Keywords: | |
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