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自对准InGaP/GaAs HBT单片集成跨阻放大器
引用本文:王延锋,孙海峰,刘新宇,和致经,吴德馨.自对准InGaP/GaAs HBT单片集成跨阻放大器[J].半导体学报,2003,24(4):406-410.
作者姓名:王延锋  孙海峰  刘新宇  和致经  吴德馨
作者单位:中国科学院微电子中心 北京100029 (王延锋,孙海峰,刘新宇,和致经),中国科学院微电子中心 北京100029(吴德馨)
摘    要:对自对准 In Ga P/ Ga As HBT单片集成跨阻放大器进行了研究 .采用发射极金属做腐蚀掩膜并利用 Ga As腐蚀各向异性的特点来完成 BE金属自对准工艺 ,最终制作出的器件平均阈值电压为 1.15 V,单指管子电流增益为5 0 ,发射极面积 4μm× 14μm的单管在 IB=2 0 0μA和 VCE=2 V偏压条件下截止频率达到了 4 0 GHz.设计并制作了直接反馈和 CE- CC- CC两种单片集成跨阻放大器电路 ,测量得到的跨阻增益在 3d B带宽频率时分别为 5 0 .6 d BΩ和 4 5 .1d BΩ ,3d B带宽分别为 2 .7GHz和 2 .5 GHz,电路最小噪声系数分别为 2 .8d B和 3.2 d B.

关 键 词:自对准工艺    InGaP/GaAsHBT    跨阻放大器
文章编号:0253-4177(2003)04-0406-05
修稿时间:2002年5月29日

Self-Aligned InGaP/GaAs HBT Monolithic Transimpedance Amplifier
Abstract:
Keywords:self  aligned BE junction process  InGaP/GaAs HBT  transimpedance amplifier
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