首页
|
本学科首页
官方微博
|
高级检索
全部学科
医药、卫生
生物科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
农业科学
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
历史、地理
语言、文字
文学
艺术
文化、科学、教育、体育
马列毛邓
全部专业
中文标题
英文标题
中文关键词
英文关键词
中文摘要
英文摘要
作者中文名
作者英文名
单位中文名
单位英文名
基金中文名
基金英文名
杂志中文名
杂志英文名
栏目中文名
栏目英文名
DOI
责任编辑
分类号
杂志ISSN号
n-Hg_(0.8)Cd_(0.2)Te晶片少子寿命分布自动测试、绘制方法
作者姓名:
邓世鹏
摘 要:
为了在红外光电导探测器工艺前对HgCdTe晶片进行挑选,以提高探测器的成品率,华北光电所于1989年底完成采用微型计算机控制、数据采集、处理和输出的X-Hg_(0.8)Cd_(0.2)Te晶片少子寿命分布自动测试和绘制方法研究。它将促进我国红外探测器(特别是多元光电导红外探测器)的研制和生产。
本文献已被
CNKI
等数据库收录!
设为首页
|
免责声明
|
关于勤云
|
加入收藏
Copyright
©
北京勤云科技发展有限公司
京ICP备09084417号