n-Hg_(0.8)Cd_(0.2)Te晶片少子寿命分布自动测试、绘制方法

为了在红外光电导探测器工艺前对HgCdTe晶片进行挑选,以提高探测器的成品率,华北光电所于1989年底完成采用微型计算机控制、数据采集、处理和输出的X-Hg_(0.8)Cd_(0.2)Te晶片少子寿命分布自动测试和绘制方法研究。它将促进我国红外探测器(特别是多元光电导红外探测器)的研制和生产。