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氮离子注入后拟南芥种子表皮的扫描电镜观察
引用本文:王卫东,王燕,王雪青,秦广雍,霍裕平. 氮离子注入后拟南芥种子表皮的扫描电镜观察[J]. 电子显微学报, 2004, 23(2): 148-151
作者姓名:王卫东  王燕  王雪青  秦广雍  霍裕平
作者单位:郑州大学离子束生物工程省重点实验室,河南,郑州,450052;郑州大学离子束生物工程省重点实验室,河南,郑州,450052;郑州大学离子束生物工程省重点实验室,河南,郑州,450052;郑州大学离子束生物工程省重点实验室,河南,郑州,450052;郑州大学离子束生物工程省重点实验室,河南,郑州,450052
基金项目:国家"十五"科技攻关项目资助(No.2001BA302B 03).
摘    要:应用扫描电镜观察了低能N^ 注入拟南芥干种子后表层细胞结构的变化。结果表明,拟南芥种子的N^ 离子注入区域与未注入区域相比,离子注入区在一定程度上发生变化并伴随有表层细胞的损伤。随着离子剂量的增大,离子对种子细胞的损伤程度增大,且种子表面有裂痕生成。另外,经注入种子的表面分布有许多散在的固体颗粒状物质,其密集程度也随离子剂量的增加而增大。

关 键 词:离子注入  扫描电镜  拟南芥
文章编号:1000-6281(2004)02-0148-04

SEM observation of the Arabidopsis thaliana seed's surface cell implanted by keV N+ ion beam
WANG Wei-dong,WANG Yan,WANG Xue-qing,QIN Guang-yong,HUO Yu-ping y,Zhengzhou Henan ,China). SEM observation of the Arabidopsis thaliana seed's surface cell implanted by keV N+ ion beam[J]. Journal of Chinese Electron Microscopy Society, 2004, 23(2): 148-151
Authors:WANG Wei-dong  WANG Yan  WANG Xue-qing  QIN Guang-yong  HUO Yu-ping y  Zhengzhou Henan   China)
Affiliation:WANG Wei-dong,WANG Yan,WANG Xue-qing,QIN Guang-yong,HUO Yu-ping y,Zhengzhou Henan 450052,China)
Abstract:
Keywords:ion beam implantation  SEM  Arabidopsis thaliana
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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