高温超导薄膜器件的计算机数据采集测量系统

用ＩＥＥＥ－４８８总线将电流源、纳伏表和锁相放大器等连接构成一个计算机测量分析系统，采用基于Ｗｉｎ－ｄｏｗｓ的Ｌａｂｖｉｅｗ测量程序，可实现对高温超导薄膜器件进行Ｒ－Ｔ曲线、Ｉ－Ｖ曲线、Ｘ－Ｔ曲线等的测量，通过ＡＤ卡采集数据，还可实现ＳＱＵＩＤｓ器件所测电磁信号的频谱分析，测量结果准确可靠，而且可以精确标定。