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| 边界扫描测试的原理及应用设计 | |
| 引用本文： | 宋克柱,杨小军,王砚方. 边界扫描测试的原理及应用设计[J]. 电子技术, 2001, 28(10): 29-32 |
| 作者姓名： | 宋克柱 杨小军 王砚方 |
| 作者单位： | 中国科学技术大学近代物理系,合肥,230027 |
| 摘 要： | 文章介绍了边界扫描测试的原理 ,分析了联合测试行动组JTAG控制器的逻辑状态 ,并给出了JTAG测试具体应用的VHDL原代码和逻辑仿真波形。利用JTAG接口可以方便地进行复杂IC芯片连接的故障定位 ,灵活控制IC芯片进入特定的功能模式等。 |
| 关 键 词： | 边界扫描测试 JTAG控制 状态机 可编程逻辑器件 |
The Principle Of Boundary-Scan Testing And Its Application Design |
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| Abstract: | |
| Keywords: | |
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