| 拆分粒度对FPGA可拆分逻辑结构性能的影响 |
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| 引用本文： | 徐 宇,林 郁,江政泓,杨立群,黄志洪,黄 娟,杨海钢.拆分粒度对FPGA可拆分逻辑结构性能的影响[J].太赫兹科学与电子信息学报,2017,15(2):307-312. |
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| 作者姓名： | 徐 宇 林 郁 江政泓 杨立群 黄志洪 黄 娟 杨海钢 |
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| 作者单位： | 1.System on Programmable Chip Research Department，Institute of Electronics，Chinese Academy of Sciences, Beijing 100190，China；2.University of Chinese Academy of Sciences，Beijing 100190，China,System on Programmable Chip Research Department，Institute of Electronics，Chinese Academy of Sciences, Beijing 100190，China,System on Programmable Chip Research Department，Institute of Electronics，Chinese Academy of Sciences, Beijing 100190，China,System on Programmable Chip Research Department，Institute of Electronics，Chinese Academy of Sciences, Beijing 100190，China,System on Programmable Chip Research Department，Institute of Electronics，Chinese Academy of Sciences, Beijing 100190，China,System on Programmable Chip Research Department，Institute of Electronics，Chinese Academy of Sciences, Beijing 100190，China and System on Programmable Chip Research Department，Institute of Electronics，Chinese Academy of Sciences, Beijing 100190，China |
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| 摘 要： | 可编程逻辑块是现场可编程门阵列(FPGA)的核心组成部分(主要由查找表(LUT)和寄存器构成)，它的内部结构设计一直是研究的重要方向。可拆分逻辑结构给电路实现带来了灵活性。本文以6-LUT作为研究对象，从拆分粒度的角度出发，研究不同的可拆分因子(N=1,2,3,4)对电路性能带来的影响。仿真实验基于开源的FPGA CAD工具(ABC和VPR)和VPR测试电路集，实验结果表明：a) 不同可拆分因子对电路关键路径延时影响不大；b) 可拆分因子为2时，电路使用资源的面积和面积-延时积均最小，呈现更好的性能。
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| 关 键 词： | 现场可编程门阵列 可拆分逻辑 查找表(LUT) 可拆分因子 |
| 收稿时间： | 2015/11/7 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2016/1/11 0:00:00 |
Influences of fracturable factor on FPGA performance |
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| XU Yu,LIN Yu,JIANG Zhenghong,YANG Liqun,HUANG Zhihong,HUANG Juan and YANG Haigang.Influences of fracturable factor on FPGA performance[J].Journal of Terahertz Science and Electronic Information Technology,2017,15(2):307-312. |
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| Authors: | XU Yu LIN Yu JIANG Zhenghong YANG Liqun HUANG Zhihong HUANG Juan and YANG Haigang |
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