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InP材料直接键合技术
引用本文:李宁,韩彦军,郝智彪,孙长征,罗毅. InP材料直接键合技术[J]. 半导体学报, 2001, 22(9): 1217-1221
作者姓名:李宁  韩彦军  郝智彪  孙长征  罗毅
作者单位:[1]集成光电子学国家重点实验室,北京100084 [2]清华大学电子工程系
基金项目:国家自然科学基金;96525407,69896260-1;
摘    要:研究了 In P/In P的直接键合技术 ,给出了详细的 In P/In P键合样品的电特性随健合工艺条件变化的数据 ,在低于 6 5 0℃的键合温度下实现了 In P/In P大面积的均匀直接键合 ,获得了与单晶 In P衬底相同的电特性和机械强度 .在器件的键合实验中也获得了成功 ,在 In Ga As P/In P多量子阱激光器结构的外延面上键合 p- In P衬底后制作的激光器激射特性良好 .

关 键 词:直接键合   InP   半导体激光器
文章编号:0253-4177(2001)09-1217-05
修稿时间:2000-11-01

Characteristics of Direct Wafer Bonded InP Materials
LI Ning,HAN Yan-jun,HAO Zhi-biao,SUN Chang-zheng and LUO Yi. Characteristics of Direct Wafer Bonded InP Materials[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2001, 22(9): 1217-1221
Authors:LI Ning  HAN Yan-jun  HAO Zhi-biao  SUN Chang-zheng  LUO Yi
Abstract:
Keywords:direct wafer bonding  InP  semiconductor laser
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