基于电致发光效应的绝缘子表面场强测量方法

由于电场探头在测量绝缘子表面场强分布时会产生畸变,为了更加准确地测量绝缘子表面场强分布,基于ZnS:Cu的电致发光效应,提出了一种非接触式测量绝缘子表面场强分布的试验方法。该方法是在绝缘子表面喷涂掺有ZnS:Cu电致发光粉末的环氧树脂涂料,并对其在高场强下的发光进行拍摄,利用图像处理的方法得到绝缘子表面场强的分布。首先在结构较为简单的圆盘绝缘子上进行了可行性验证,在圆盘绝缘子的大部分区域上实现了平均误差为3%的测量;然后将该方法推广至盆式绝缘子,测量所得结果与仿真结果较相符。结果表明:电致发光效应可应用于绝缘子表面场强分布的测量,该方法不会使绝缘子的表面场强发生畸变,为绝缘子表面场强分布的测量提供了一种新思路。