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一种高速冲击测试仪的研制
引用本文:赵彬,王一凡. 一种高速冲击测试仪的研制[J]. 工业仪表与自动化装置, 2005, 0(2): 65-66,45
作者姓名:赵彬  王一凡
作者单位:1. 西北工业大学,工程力学系,陕西,西安,710072
2. 双合电脑系统有限公司,陕西,西安,710075
摘    要:该文介绍了一种基于FPGA及多片A/D转换器的新式高速冲击测试仪,可实现时间一应力、时间一位移及位移一应力等曲线的记录,在解决冲击断裂性能方面具有较高的应用价值。

关 键 词:冲击 FPGA VHDL A/D
文章编号:1000-0682(2005)02-0065-02

The development of a high-speed impact testing instrument
ZHAO Bin,WANG Yi-fan. The development of a high-speed impact testing instrument[J]. Industrial Instrumentation & Automation, 2005, 0(2): 65-66,45
Authors:ZHAO Bin  WANG Yi-fan
Affiliation:ZHAO Bin~1,WANG Yi-fan~2
Abstract:
Keywords:impact  FPGA  VHDL  A/D  
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