| 基于边界扫描技术的VLSI芯片互连电路测试研究 |
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| 引用本文： | 王隆刚,李桂祥,杨江平. 基于边界扫描技术的VLSI芯片互连电路测试研究[J]. 计算机测量与控制, 2003, 11(4): 247-249,253 |
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| 作者姓名： | 王隆刚 李桂祥 杨江平 |
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| 作者单位： | 1. 空军雷达学院,研究生队,湖北,武汉,430019
2. 空军雷达学院,雷达系统工程系,湖北,武汉,430019 |
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| 摘 要： | 对VLSI芯片互连电路测试过程数学描述模型及测试原理进行了研究，在此基础上提出了一种基于边界扫描技术的VLSI芯片互连电路测试实现方案。以PC机为测试平台的测试实验结果表明：该方案成功地完成了边界扫描机制试验电路扳上互连电路的桥接、S—A—1型、S—A—0型等多种类型故障的检测。
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| 关 键 词： | 超大规模集成电路 VLSI 芯片互连 电路测试 边界扫描 |
| 文章编号： | 1671-4598(2003)04-0247-03 |
Research of the VLSI Chips′ Interconnection Circuit Test Based on Boundary Scan |
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| WANG Long gang ,LI Gui xiang ,YANG Jiang ping. Research of the VLSI Chips′ Interconnection Circuit Test Based on Boundary Scan[J]. Computer Measurement & Control, 2003, 11(4): 247-249,253 |
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| Authors: | WANG Long gang LI Gui xiang YANG Jiang ping |
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| Affiliation: | WANG Long gang 1,LI Gui xiang 2,YANG Jiang ping 2 |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | boundary scan interconnection circuit test VLSI chip |
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