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ISO/TC 24/SC 4第46次会议在京召开
摘    要:<正>2014年5月23日~24日由国家标准化管理委员会主办、中机生产力促进中心承办的国际标准化组织颗粒表征及筛网技术委员会颗粒表征分技术委员会(ISO/TC 24/SC 4)第46次会议在北京召开。来自美国、德国、英国、法国、奥地利、比利时、荷兰、俄罗斯和中国的76名代表参加大会及13个工作组会议。会议对颗粒表征领域的20余项在研标准进行讨论,通过了六项决议。我国有24名来自相关科研单位、高校、检测机构及仪器和样品制造企业代表参加会议。特别在小角X光散射工作组会上,我国代表从

关 键 词:技术委员会  ISO/TC /SC   检测机构  标准化管理  科研单位  光散射  标准化工作  小角  机械科学  技术专长  
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