触头结构对真空灭弧室开断能力影响的试验研究 |
| |
引用本文: | 喻立贵.触头结构对真空灭弧室开断能力影响的试验研究[J].高压电器,1984(5). |
| |
作者姓名: | 喻立贵 |
| |
作者单位: | 北京电器研究所 |
| |
摘 要: | <正> 真空断路器的灭弧室外形结构,几乎已典型化,而灭弧室中触头的几何形状及触头材料,则相差很大。近几年来,由于触头几何形状设计改变,开断电流有了较大的突破,在实验室中开断能力已达到200kA以上。为了研究触头结构对真空灭弧室的开断能力的影响,我们对几种不同触头结构的真空灭弧室的开断能力,进行了试验研
|
本文献已被 CNKI 等数据库收录! |
|