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触头结构对真空灭弧室开断能力影响的试验研究
引用本文:喻立贵.触头结构对真空灭弧室开断能力影响的试验研究[J].高压电器,1984(5).
作者姓名:喻立贵
作者单位:北京电器研究所
摘    要:<正> 真空断路器的灭弧室外形结构,几乎已典型化,而灭弧室中触头的几何形状及触头材料,则相差很大。近几年来,由于触头几何形状设计改变,开断电流有了较大的突破,在实验室中开断能力已达到200kA以上。为了研究触头结构对真空灭弧室的开断能力的影响,我们对几种不同触头结构的真空灭弧室的开断能力,进行了试验研

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