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n+-p-HgCdTe光伏探测器的化学硫化
引用本文:赵晓燕,彭震宇,鲁正雄.n+-p-HgCdTe光伏探测器的化学硫化[J].航空兵器,2006,479(1):35-37.
作者姓名:赵晓燕  彭震宇  鲁正雄
作者单位:中国空空导弹研究院,河南,洛阳,471009
摘    要:首次采用Na2S.9H2O在n -p-HgCdTe表面进行化学硫化,然后溅射ZnS于化学硫化层上的钝化方法。I-V特性曲线显示,经过化学硫化的n -p-HgCdTe器件的漏电流有所下降。分析表明,化学硫化由于抑制了表面氧化而降低了表面态密度,避免了相应漏电流的形成。

关 键 词:n  -p-HgCdTe  光伏探测器  化学硫化  I-V特性
文章编号:1673-5048(2006)01-0035-03
收稿时间:2005-03-29
修稿时间:2005年3月29日

Sulphur-Passivation of n+-on-p-HgCdTe Photovoltaic Detectors
ZHAO Xiao-yan,PENG Zhen-yu,LU Zheng-xiong.Sulphur-Passivation of n+-on-p-HgCdTe Photovoltaic Detectors[J].Aero Weaponry,2006,479(1):35-37.
Authors:ZHAO Xiao-yan  PENG Zhen-yu  LU Zheng-xiong
Abstract:
Keywords:n~ -on-p-HgCdTe  photovoltaic detectors  sulphur-passivation  I-V characteristics
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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