| 实时检测系统设计 |
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| 引用本文： | 饶贵安,陈铁红. 实时检测系统设计[J]. 电测与仪表, 2003, 40(12): 47-50 |
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| 作者姓名： | 饶贵安 陈铁红 |
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| 作者单位： | 第二炮兵指挥学院,三系,武汉,430021;第二炮兵指挥学院,三系,武汉,430021 |
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| 摘 要： | 许多检测系统对采样速率的要求不是很高，但需要实时输出检测结果。本系统设计了采样控制电路，以使A／D转换自动进行。使用FIFO存储器作为A／D转换数据的缓冲存储器。在采满一定的数据量后FIFO存储器发出半满信号，计算机从FIFO存储器中读出数据并进行数据处理，输出处理结果。计算机从FIFO中读出数据和对数据的处理不影响A／D转换。
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| 关 键 词： | FIFO 双口RAM A/D转换 |
| 文章编号： | 1001-1390(2003)12-0047-04 |
| 修稿时间： | 2003-10-02 |
The design of the real time testing system |
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| Rao Gui ''''an,Chen Tiehong. The design of the real time testing system[J]. Electrical Measurement & Instrumentation, 2003, 40(12): 47-50 |
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| Authors: | Rao Gui ''''an Chen Tiehong |
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| Abstract: | The sampling velocity is not important in many testing system,but it may be re-quired to output the testing result real time.In the system,the control circuit is designed to trigger the A/D convert automatically.The first-in first-out memories(FIFO)are used as the buffer memories for the data of A/D conversion.After the FIFO is half full,the computer read the data from the FIFO,then the data will be processed,and the testing result will be given out.Reading data from the FIFO does not affect the A/D convert. |
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| Keywords: | FIFO Dual-Port RAM A/D conversion |
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