一种高压集成电容结构的可靠性研究 |
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作者姓名: | 王坤 谭开洲 唐昭焕 殷万军 罗俊 黄磊 王斌 |
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作者单位: | 重庆邮电大学, 重庆 400065;模拟集成电路重点实验室, 重庆 400060;模拟集成电路重点实验室, 重庆 400060;模拟集成电路重点实验室, 重庆 400060;重庆邮电大学, 重庆 400065;模拟集成电路重点实验室, 重庆 400060;中国电子科技集团公司 第二十四研究所, 重庆 400060;中国电子科技集团公司 第二十四研究所, 重庆 400060;中国电子科技集团公司 第二十四研究所, 重庆 400060 |
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摘 要: | 针对一种下极板独立的700 V高压集成电容,进行了瞬态可靠性研究。研究表明,随着电容下极板尺寸的增加,电容的瞬态可靠性下降。用器件仿真软件MEDICI计算得出,在瞬态电压上升沿为200 ns的情况下,电容下极板最大可靠宽度为124 μm;同时,还得出一系列上升沿时间小于200 ns的电容结构下极板最大可靠宽度。
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关 键 词: | 高压集成电路 电容 可靠性 |
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