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| 某些中国锗电阻温度计的性能 | |
| 作者姓名： | L．M．Besley 曲学悌 王明义 刘雅珍 |
| 作者单位： | [1]澳大利亚 [2]大连化学工业公司 [3]化工部光明化工研究所 |
| 摘 要： | 本文考察了25支经过20～203K热循环的中国锗电阻温度计时稳定性，以及1～28K的测温性能。虽然锗电阻温度计的不稳定行为往往是不明显的，但在20K时仍显示出4～17mΩ(相当于温度1～10mK)的不稳定性。在20K对，大体上具有3mK的稳定性。温度计经实际工作之后，在4．2K会出现相当于几mK更大的电阻变化。这些温度计在1～28K的温度-电阻值关系中未显示出异常特征， |
| 关 键 词： | 电阻温度计 性能 中国 锗 不稳定性 电阻变化 异常特征 热循环 电阻值 显示 测温 |
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