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高斯混合模型的光学元件表面疵病边缘定位
引用本文:王庆月,吴宇,陆成刚.高斯混合模型的光学元件表面疵病边缘定位[J].四川激光,2023(11):157-161.
作者姓名:王庆月  吴宇  陆成刚
作者单位:1. 宁夏理工学院;2. 浙江工业大学理学院
基金项目:宁夏自然科学基金项目(No.2020AAC03278);
摘    要:为抑制光照突变对边缘定位的影响,提升疵病边缘定位效果,提出高斯混合模型的光学元件表面疵病边缘定位方法。引入光照变化因子,通过颜色直方图匹配算法自适应更新高斯混合模型参数;利用参数更新后的高斯混合模型提取光学元件表面疵病背景图像,通过差运算原始光学元件表面疵病图像与疵病背景图像,得到疵病前景图像;利用Canny边缘算子提取光学元件表面疵病的边缘前景图像;加权融合边缘前景图像与前景图像,得到光学元件表面疵病边缘定位结果。实验结果表明,该方法可有效提取光学元件表面疵病前景图像与边缘前景图像,得到疵病边缘定位结果;在不同光照变化情况下,不同疵病宽度时,该方法疵病边缘定位的边缘连接完整度均较佳;该方法定位不同类型疵病边缘时的灰度差分乘积均较高,即边缘定位清晰度较佳,定位的边缘较明显。

关 键 词:高斯混合模型  光学元件  表面疵病  边缘定位  直方图  边缘算子
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