| 一起SF6封闭式组合电器故障的原因分析 |
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| 引用本文： | 葛猛,陶安培. 一起SF6封闭式组合电器故障的原因分析[J]. 高压电器, 2008, 44(1): 95-96 |
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| 作者姓名： | 葛猛 陶安培 |
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| 作者单位： | 吉林供电公司试验所,吉林,132001;吉林供电公司试验所,吉林,132001 |
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| 摘 要： | 介绍了一起由于盘式绝缘子脏污引起的SF6封闭式组合电器(GIS)故障。通过详实的试验,对GIS脏污缺陷的早期发现与预防提出了建议。
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| 关 键 词： | 封闭式组合电器 绝缘子 接地故障 气室 |
| 文章编号： | 1001-1609（2008）01-0095-02 |
| 收稿时间： | 2007-04-10 |
| 修稿时间： | 2007-10-23 |
Analysis of Reason for a GIS Fault |
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| GE Meng,TAO An-pei. Analysis of Reason for a GIS Fault[J]. High Voltage Apparatus, 2008, 44(1): 95-96 |
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| Authors: | GE Meng TAO An-pei |
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| Abstract: | This article introduced a breakdown of SF6 GIS,which is due to dirty disc-insulator.Through the detailed experiment,the author analysised the origin of breakdown,and adviced about early discovery of dirty breakdown,followed by the scene experience and the equipment characteristic. |
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| Keywords: | GIS insulator earth fault air chamber |
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