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ZnO薄膜制备及其发光特性研究
引用本文:王晶,张希清,等.ZnO薄膜制备及其发光特性研究[J].光电子.激光,2002,13(11):1116-1119.
作者姓名:王晶  张希清
作者单位:北方交通大学光电子技术研究所,信息存储、显示与材料开放实验室,北京,100044
摘    要:用射频磁控反应溅射法分别在未加热和加热的石英玻璃衬底上制备ZnO薄膜,在不同温度下进行退火处理,研究衬底温度、退火条件对其结构和发光性能的影响。通过对样品的X射线衍射(XRD)、吸收光谱和光致发光(PL)光谱的测量结果表明,衬底温度为230℃、退火温度为400℃时样品结晶性能最佳,并具有最强的紫外光发射(380nm)。

关 键 词:ZnO薄膜  制备  发光特性  磁控溅射  光致发光  氧化锌  半导体化合物
文章编号:1005-0086(2002)11-1116-04
修稿时间:2002年6月19日

Preparation and Property Investigations of Magnetron Sputtered Zinc Oxide Thin Films
Abstract:
Keywords:ZnO thin film  Magetron sputtering  Photoluminescence(PL)
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