测试技术的飞跃--边界扫描技术 |
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引用本文: | 蔚英辉.测试技术的飞跃--边界扫描技术[J].电信技术,2002(2):75-77. |
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作者姓名: | 蔚英辉 |
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作者单位: | 上海贝尔有限公司,201206 |
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摘 要: | 集成工艺的发展使传统测试方法面临着越来越大的困难,边界扫描技术正是为了解决这些困难而出现的一种完整的、标准化的可测试性设计方法,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案,极大地方便了系统电路的调试。本将介绍边界扫描的原理,并对边界扫描技术的应用作一些讨论。
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关 键 词: | 边界扫描技术 测试技术 集成电路 |
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