导弹测试设备电路板备件预测方法 |
| |
引用本文: | 赵建忠,徐廷学,郭磊,郭宏超.导弹测试设备电路板备件预测方法[J].四川兵工学报,2008,29(6). |
| |
作者姓名: | 赵建忠 徐廷学 郭磊 郭宏超 |
| |
作者单位: | 海军航空工程学院,山东,烟台,264001 |
| |
摘 要: | 针对导弹测试设备电路板的特性,从备件不可修、寿命服从指数分布、泊松分布经验模型和基于备件保障度的角度出发,提出了对其备件进行预测的4种方法,其中基于备件保障度的预测模型又可分为单不可修寿命服从负指数分布部件和多不可修寿命服从负指数分布部件.
|
关 键 词: | 测试设备 备件保障度 备件故障率 |
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录! |
|