首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

基于线激光锁相热成像的芯片裂纹成像检测
作者姓名:许颖  王青原  罗聪聪  Hoon Sohn
作者单位:哈尔滨工业大学(深圳)土木与环境工程学院,深圳市城市与土木工程防灾减灾重点实验室,广东深圳518055;韩国科学技术院土木与环境工程系,大田34708,韩国
基金项目:国家自然科学基金;深圳市科技计划
摘    要:

关 键 词:图像处理  热成像  无损检测  表面缺陷检测
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号