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基于Gray码和线移条纹的结构光3D测量技术
引用本文:于晓洋,吴海滨. 基于Gray码和线移条纹的结构光3D测量技术[J]. 仪器仪表学报, 2008, 29(4): 701-704
作者姓名:于晓洋  吴海滨
作者单位:哈尔滨理工大学,哈尔滨,150080
基金项目:国家自然科学基金 , 高等学校博士学科点专项科研项目 , 黑龙江省教育厅海外学人科研(合作)基金 , 黑龙江省哈尔滨市科技攻关项目 , 黑龙江省研究生创新科研项目
摘    要:结构光3D测量的线移条纹进行编码,以亚像素定位技术提取Gray码条纹边缘和线移条纹中心,将其上点作为图像采样点进行解码的方法.消除了Gray码固有的一位解码误差对投射角求取的影响,同时提高了采样密度.文中具体介绍该方法的编码解码原理,分析了编码图案正交投射对测量准确度的影响,给出了仿真实验结果.测量误差约为0.04%.

关 键 词:3D测量  结构光  Gray码  线移  Gray code  结构光  测量技术  fringe  测量误差  结果  仿真实验  测量准确度  正交  编码图案  分析  原理  编码解码  采样密度  影响  投射角  方法  采样点  图像  条纹中心
修稿时间:2007-01-01

Structured-light-based 3D measurement technique using Gray code and line-shift fringe
Yu Xiaoyang,Wu Haibin. Structured-light-based 3D measurement technique using Gray code and line-shift fringe[J]. Chinese Journal of Scientific Instrument, 2008, 29(4): 701-704
Authors:Yu Xiaoyang  Wu Haibin
Abstract:
Keywords:
本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录!
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