首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

ASIC设计流程中的典型问题研究
引用本文:章旌红,何剑春,陶东娅. ASIC设计流程中的典型问题研究[J]. 浙江工业大学学报, 2007, 35(2): 127-131
作者姓名:章旌红  何剑春  陶东娅
作者单位:浙江工业大学,信息工程学院,浙江,杭州,310032
摘    要:随着集成电路制造工艺的快速发展,系统芯片(SOC)及其功能ASIC模块的研究越来越引起关注.基于ASIC设计流程,讨论了当前ASIC设计中逻辑综合、易测性、低功耗等一些典型问题,并以工艺独立阶段和工艺映射阶段中ASIC综合需要解决的问题为研究重点,结合实例分析了其中的关键环节,以期作为高性能ASIC设计优化、可测性设计、设计验证等方向分析研究的前期工作.

关 键 词:逻辑综合  可测性设计  低功耗
文章编号:1006-4303(2007)02-0127-05
修稿时间:2006-09-10

Research on some typical problems in the ASIC design flow
ZHANG Jiang-hong,HE Jian-chun,Tao Dong-ya. Research on some typical problems in the ASIC design flow[J]. Journal of Zhejiang University of Technology, 2007, 35(2): 127-131
Authors:ZHANG Jiang-hong  HE Jian-chun  Tao Dong-ya
Affiliation:College of Information Engineering, Zhejiang University of Technology, Hangzhou 310032, China
Abstract:With the fast development of IC fabricating technology,research on SOC and ASIC modules cause more attention.According to the design flow,some typical problems,such as logic synthesis,testability and low power dissipation,was discussed in the paper.And most attention was paid on the ASIC synthesis in the technology independency and technology mapping procedure separately.We hope that the research is a good guide for the study on design optimization,design for test and verification.
Keywords:ASIC
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号