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| 磁尺、光栅综合精度检测方法与内插细分精度分析 | |
| 作者姓名： | 谭锋 王忠祜 郑义和 |
| 作者单位： | 一机部机床研究所(谭锋，王忠祜)，宁江机床厂(郑义和) |
| 摘 要： | 在磁尺、光栅位置检测装置中,系统的综合精度主要由以下几种误差组成: 1)磁尺、光栅尺的节距误差, 2)内插细分误差; 3)由显示器引起的±1个最小读数值数字化误差; 4)机械部分的误差; 5)使用温度与录(刻)制磁尺、光栅时的标准温度不一致造成的误差。 当系统参数选定后,数显箱最小读数值就被确定,所以第3项误差很易判别;若装置在20℃的恒温车间或计量定使用,第5项误差也可排除;但第1,2,4三项误差就难以区别判定,因磁尺上的信号只能由磁头读取才能检出,光栅只刻划线条很密不宜单线瞄准,一般都用读数头同时读取多条线纹的信息(如磁尺同时读取30… |
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