| 电感耦合等离子体质谱法测定低浓度氪和氙 |
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| 引用本文： | 董宏波,朱凤蓉,周国庆,李志明.电感耦合等离子体质谱法测定低浓度氪和氙[J].质谱学报,2004,25(Z1):13-14. |
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| 作者姓名： | 董宏波 朱凤蓉 周国庆 李志明 |
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| 作者单位： | 西北核技术研究所,陕西,西安,710024 |
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| 摘 要： | 在环境分析及地球化学研究等工作中,有时需要对低浓度的稀有气体氪(Kr)和氙(Xe)进行定量分析.常用的分析仪器是气相色谱(GC)和专用气体质谱计.专用气体质谱计在对样品进行预处理后可达到很高的同位素比值分析精度,但是直接进样测定低浓度氪和氙样品浓度值的精度较低,价格昂贵、应用范围较窄.GC测量简单快速、仪器价格便宜,但是只能测定氪和氙的浓度,无法分析同位素丰度,而且检测限相对较高,难以胜任低于ppm浓度氪和氙样品定量分析的要求.电感耦合等离子体质谱计(ICP-MS)作为一种理想的多元素快速分析仪器,一般认为其不适合稀有气体分析.本文简要介绍本实验室发展的应用ICP-MS测定低浓度Kr和Xe的技术.
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| 文章编号： | 1004-2997(2004)增刊-13-02 |
| 修稿时间： | 2004年9月13日 |
Analysis Technique of Low Concentration Kr and Xe by Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometry |
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