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c-BN薄膜的生长过程和可重复性的研究
引用本文:刘钧锴,邓金祥,陈浩,田凌,陈光华.c-BN薄膜的生长过程和可重复性的研究[J].真空科学与技术学报,2006,26(Z1):57-60.
作者姓名:刘钧锴  邓金祥  陈浩  田凌  陈光华
作者单位:1. 北京工业大学材料学院,北京,100022
2. 北京工业大学应用数理学院,北京,100022
3. 兰州大学物理学院,兰州,730000
摘    要:用常规射频(RF)溅射系统,采用三步法在p型Si(111)上高重复率地制备出高品质的立方氮化硼(c-BN)薄膜.通过对c-BN薄膜生长过程的分析,找出了传统两步法制备高品质的c-BN薄膜重复率不高的原因.在两步法之前增加了使湍流层结构氮化硼(t-BN)转化为斜方六面体结构的氮化硼(r-BN)的步骤,即将形核过程分也为两步,使重复率显著提高.傅立叶变换红外吸收光谱的结果表明当第一步偏压为180 V,时间为5 min时,得到了立方相含量为85%的c-BN薄膜.

关 键 词:立方氮化硼  可重复性  生长过程  射频溅射
文章编号:1672-7126(2006)增-0057-04
修稿时间:2005年9月1日

Growth of c-BN Films and Growth Reproducibility
Liu Junkai,Deng Jinxiang,Chen Hao,Tian Ling,Chen Guanghua.Growth of c-BN Films and Growth Reproducibility[J].JOurnal of Vacuum Science and Technology,2006,26(Z1):57-60.
Authors:Liu Junkai  Deng Jinxiang  Chen Hao  Tian Ling  Chen Guanghua
Abstract:
Keywords:
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