新型碱性清洗剂对BTA去除的研究 |
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引用本文: | 洪姣,刘玉岭,王辰伟,苗英新,段波.新型碱性清洗剂对BTA去除的研究[J].微纳电子技术,2014(7). |
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作者姓名: | 洪姣 刘玉岭 王辰伟 苗英新 段波 |
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作者单位: | 河北工业大学微电子研究所; |
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基金项目: | 国家中长期科技发展规划02科技重大专项资助项目(2009ZX02308) |
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摘 要: | 为了有效去除化学机械抛光(CMP)后清洗中的苯并三氮唑(BTA)沾污,分析了碱性清洗剂中FA/OⅡ型螯合剂和FA/OⅠ型表面活性剂对BTA去除的影响规律。铜光片上的单因素实验中,通过测试铜光片清洗前后铜表面与去离子水的接触角得出:FA/OⅡ型螯合剂是影响铜光片上BTA去除的主要因素,FA/OⅠ型表面活性剂对铜光片上BTA的去除有一定的作用。利用扫描电镜测试采用不同体积分数和不同配比的清洗液清洗后的图形片上的BTA沾污,通过对比清洗后铜光片上残留的BTA沾污数量可知,清洗剂中FA/OⅡ型螯合剂体积分数为0.01%和FA/O I型表面活性剂体积分数为0.25%时,清洗剂清洗BTA沾污效果最好,基本上无BTA沾污残留,并且清洗后未发现氧化铜颗粒和硅溶胶颗粒沾污。
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关 键 词: | 碱性清洗剂 螯合剂 表面活性剂 苯并三氮唑(BTA) 接触角 |
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