首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

Mg_xZn_(1-x)O压电薄膜表面粗糙度对SMR性能的影响
引用本文:沈勇,刘一剑,杨翰林,段力,张亚非.Mg_xZn_(1-x)O压电薄膜表面粗糙度对SMR性能的影响[J].微纳电子技术,2014(12).
作者姓名:沈勇  刘一剑  杨翰林  段力  张亚非
作者单位:上海交通大学电子信息与电气工程学院;
基金项目:国家科技项目(2011AA050504)
摘    要:固体装配型谐振器(SMR)由布拉格反射层上的两个电极及它们之间的压电层制备而成。布拉格层是厚度为1/4波长的高低声阻层结构。ZnO压电薄膜是用来制备SMR的传统压电材料,但却拥有低的纵向声学速度和相对固定的频率响应。由ZnO和MgO合成的三元化合物MgxZn1-xO薄膜是一种高声速、高电阻的压电材料,有很大的潜能用于SMR。MgxZn1-xO薄膜表面的粗糙度对SMR的谐振特性有很大影响。通过射频磁控溅射的方法制备了MgxZn1-xO薄膜,研究了不同射频磁控溅射条件对MgxZn1-xO薄膜表面粗糙度的影响。通过控制淀积条件,获得了c轴择优取向的表面光滑的MgxZn1-xO压电薄膜。通过优化MgxZn1-xO薄膜表面粗糙度,SMR的性能能够得到显著提高。

关 键 词:磁控溅射  压电材料  表面粗糙度  固体装配型谐振器(SMR)  MgxZn-xO
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号