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| STS2106A数字集成电路测试系统的开发及应用 | |
| 作者姓名： | 余向阳 陈远金 |
| 作者单位： | 中国兵器工业第214研究所,蚌埠233042 |
| 摘 要： | 本文以一款CMOS专用数字集成电路为例，介绍STS2106A数字集成电路测试系统开发过程以及使用中的重点注意事项。 |
| 关 键 词： | 数字集成电路 测试系统 适配器 参数编程 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ | |
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