| 均匀线阵阵元缺损对波束方向图影响的分析 |
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| 引用本文： | 朱德智,闫冯军.均匀线阵阵元缺损对波束方向图影响的分析[J].现代电子技术,2009,32(8). |
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| 作者姓名： | 朱德智 闫冯军 |
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| 作者单位： | 中国电子科技集团公司,第38研究所,安徽,合肥,230031 |
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| 摘 要： | 当均匀线阵中某些阵元损坏时,该阵元无法接收入射信号,会导致波束形成结果与正常情况出现差别.在不进行加窗处理的情况下,波束方向图变化不大,主瓣幅度稍有减小,主瓣宽度和主副比也略有变化.然而对于锥化波束形成,波瓣的主瓣幅度、主副比和主瓣宽度受到明显影响,且与缺损阵元在线阵中的位置有着肾密的联系,当缺损阵元处于线阵中心时,波瓣性能受到严重影响.讨论了阵元缺损对波束形成的影响,通过比较缺损阵元在不同位置时的锥化波束形成波瓣性能变化,得知阵元离线阵中心越近对波瓣影响越大,因而要优先保证线阵中心阵元完好.
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| 关 键 词： | 波束形成 方向图 阵元缺损 锥化 |
Analysis about Impact of Uniform Linear Array Defect on Beam Pattern |
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| ZHU Dezhi,YAN Fengjun.Analysis about Impact of Uniform Linear Array Defect on Beam Pattern[J].Modern Electronic Technique,2009,32(8). |
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| Authors: | ZHU Dezhi YAN Fengjun |
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