首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

多层微桥试验法测量薄膜力学性能的研究
引用本文:周志敏,周勇,曹莹,丁文,毛海平.多层微桥试验法测量薄膜力学性能的研究[J].现代科学仪器,2008,18(2):32-35.
作者姓名:周志敏  周勇  曹莹  丁文  毛海平
作者单位:上海交通大学微纳科学技术研究院教育部薄膜与细微技术重点实验室,上海,200030
摘    要:本文推导了表征多层结构微桥试验挠度-载荷关系的特征参数.通过MEMS(微机电系统)技术制备了包含亚微米厚度NiFe和cu薄膜的5层和8层微桥,采用XP纳米压痕仪进行微桥试验.基于小挠度理论和固支(built-in)边界条件,通过对不同长度微桥挠度-载荷关系曲线的研究,计算了梁弯曲刚度和单位宽度残余合力,并提出了一种估算薄膜机械性能的方法.得到NiFe薄膜弹性模量、残余应力分别为201.54GPa和270.75MPa,Cu薄膜为120.15GPa和50.31MPa.

关 键 词:微桥试验  MEMS  机械性能  多层薄膜  微桥  试验法  测量  薄膜力学性能  研究  Testing  Method  Microbridge  Multilayer  Thin  Film  Mechanical  Properties  应力分  膜弹性模量  方法  机械性能  估算  宽度  单位  弯曲刚度  计算  关系曲线
收稿时间:2007/10/17
修稿时间:2007年10月17

The Evaluation of Mechanical Properties of Thin Film by Multilayer Microbridge Testing Method
Zhou Zhimin,Zhou Yong,Cao Ying,Ding Wen,Mao Haiping.The Evaluation of Mechanical Properties of Thin Film by Multilayer Microbridge Testing Method[J].Modern Scientific Instruments,2008,18(2):32-35.
Authors:Zhou Zhimin  Zhou Yong  Cao Ying  Ding Wen  Mao Haiping
Abstract:
Keywords:
本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号