基于Infiniium MSO9000系列示波器的DDR总线测试方案 |
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引用本文: | 马卓凡.基于Infiniium MSO9000系列示波器的DDR总线测试方案[J].国外电子测量技术,2009,28(11):10-16. |
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作者姓名: | 马卓凡 |
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作者单位: | 安捷伦科技中国有限公司 |
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摘 要: | 概述
DDR (Double Data Rate)DRAM由于性能和价格的优势,正日益广泛的应用于计算机平台以及各种嵌入式产品设计中。DDR规范从DDR1,DDR2发展到DDR3,并且也发展出主要应用于移动设备领域的LPDDR(低功耗DDR)。随着总线速度的提高,信号完整性问题,互操作问题越来越被设计和测试人员关注。而由于DDR总线复杂度高,探测困难,测试和分析也有非常大挑战。
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关 键 词: | DDR2 测试方案 总线速度 示波器 产品设计 计算机平台 信号完整性 移动设备 |
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