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| 高低温试验箱低温失控故障分析及解决 | |
| 引用本文： | 涂伟,吴德乾.高低温试验箱低温失控故障分析及解决[J].中国机械,2014(20):127-128. |
| 作者姓名： | 涂伟 吴德乾 |
| 作者单位： | 中国航天科技集团公司第四研究院四零一所,陕西西安710025 |
| 摘 要： | 针对WDJ-5040高低温试验箱经过长期使用，在一次试验过程中出现低温度试验温度回升，无法满足低温试验要求这一故障，结合试验箱工作原理与故障现象分析了大致原因、依据分析结论对试验箱进行了检查，最终发现固态继电器输出端损坏导致该故障，更换了故障元件，设备功能恢复正常，满足温度试验要求。 |
| 关 键 词： | 固态继电器 击穿 PID |
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