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ZnSe-ZnTe应变层超晶格的分子束外延生长及特性分析
作者姓名:沈爱东  崔捷  陈云良  徐梁  王海龙
作者单位:中国科学院上海光学精密机械研究所 上海201800(沈爱东,崔捷,陈云良,徐梁),中国科学院上海光学精密机械研究所 上海201800(王海龙)
摘    要:运用MBE/FWIII设备成功地生长了高质量的ZnSe-ZnTe应变层超晶格.对材料的特性进行了俄歇电子能谱、低角度X射线衍射、光荧光及拉曼光谱等分析测试.并首次观测到ZnSe层内6个LO声子限制模.

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