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| 改性重质碳酸钙的Zeta电位对加填纸性能的影响 | |
| 作者姓名： | 樊慧明 龙君 刘建安 张成 |
| 作者单位： | 华南理工大学制浆造纸工程国家重点实验室;华南理工大学造纸与污染控制国家工程研究中心; |
| 基金项目： | 广东省科技计划项目(2011B010300015);科技部科技型中小企业创新基金(12C26214405137) |
| 摘 要： | 通过控制淀粉改性过程中硬脂酸钠的用量制得不同Zeta电位的改性碳酸钙(GCC),探讨改性GCC的Zeta电位对填料留着率和纸张物理强度的影响。试验结果表明:助留剂CPAM的用量一定,当改性GCC的Zeta电位为-2.89 mV时,留着率达到最大;当改性GCC的Zeta电位为-5.91 mV时,加填纸的抗张强度、撕裂度和耐破度均最大。 |
| 关 键 词： | 改性GCC Zeta电位 留着率 纸张物理强度 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |