| 基于LabVIEW的介电材料电阻温度特性测控系统 |
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| 引用本文： | 陈剑,刘卫国.基于LabVIEW的介电材料电阻温度特性测控系统[J].中国测试技术,2006,32(5):66-68. |
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| 作者姓名： | 陈剑 刘卫国 |
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| 作者单位： | 西安工业学院光电工程学院微系统研究所,陕西,西安,710032 |
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| 摘 要： | 介绍了在LabVIEW环境下开发测试程序VI（虚拟仪器）测试片状元件试样的方阻、电阻率以及电阻温度系数TCR随温度的变化关系，主要包括电阻温度特性测控系统的硬件构成，基于IabVIEW开发平台的测控软件框图及测试程序。该测试系统在-20℃～120℃温度范围内能够实现对元件试样的多点测试，升温方法采取线性升温，且升温速率可在0．1℃／min～10℃／min之间选择，测试结果对于介电材料性能的研究以及元器件开发都有一定的价值。
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| 关 键 词： | 介电材料 方阻 电阻温度系数 测控系统 |
| 文章编号： | 1672-4984(2006)05-0066-03 |
| 收稿时间： | 2005-11-20 |
| 修稿时间： | 2006-01-25 |
Measurement system for resistance temperature characteristic of dielectric material on LabVIEW |
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| CHEN Jian,LIU Wei-guo.Measurement system for resistance temperature characteristic of dielectric material on LabVIEW[J].China Measurement Technology,2006,32(5):66-68. |
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| Authors: | CHEN Jian LIU Wei-guo |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Dielectric materials Square resistance Resistance temperature ccefficient Control system |
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