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Ar气氛下直流磁控溅射ITO薄膜的结构和性能
引用本文:职利,徐华蕊,周怀营. Ar气氛下直流磁控溅射ITO薄膜的结构和性能[J]. 功能材料与器件学报, 2007, 13(2): 177-180
作者姓名:职利  徐华蕊  周怀营
作者单位:桂林电子科技大学信息材料科学与工程系,桂林,541004;桂林电子科技大学信息材料科学与工程系,桂林,541004;桂林电子科技大学信息材料科学与工程系,桂林,541004
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划) , 广西新世纪十百千人才工程基金 , 广西自然科学基金
摘    要:采用直流磁控溅射法在低温、100%Ar的无氧气氛中制备了光电性能优良的铟锡氧化物(ITO,In2O3:SnO2=90:10,质量百分比)薄膜,详细探讨了溅射时改变氩气压强对ITO薄膜结构以及光电性能的影响.结果表明:溅射时氩气压强越小,ITO薄膜的体心立方晶型越完整,导电性越好,但对可见光透过性的影响不大.当氩气压强为0.3Pa时,溅射薄膜性能最佳,其光透过率可达92.9%,电导率为8.9×10-4Ω·cm.

关 键 词:直流磁控溅射  ITO薄膜  氩气压强  电导率  透过率
文章编号:1007-4252(2007)02-0177-04
修稿时间:2006-03-15

Structure and properties of ITO films sputtered by DC magnetron at 100% Ar atmosphere
MZHI Li,XU Hua-rui,ZHOU Huai-ying. Structure and properties of ITO films sputtered by DC magnetron at 100% Ar atmosphere[J]. Journal of Functional Materials and Devices, 2007, 13(2): 177-180
Authors:MZHI Li  XU Hua-rui  ZHOU Huai-ying
Abstract:
Keywords:magnetron sputtering  ITO thin films  Ar pressure  optical and electrical properties
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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