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AlInGaN/GaN PIN紫外光电探测器的研制
引用本文:黄瑾,洪灵愿,刘宝林,张保平.AlInGaN/GaN PIN紫外光电探测器的研制[J].半导体光电,2008,29(5).
作者姓名:黄瑾  洪灵愿  刘宝林  张保平
作者单位:厦门大学,物理系,福建,厦门,361005;厦门大学,物理系,福建,厦门,361005;厦门大学,物理系,福建,厦门,361005;厦门大学,物理系,福建,厦门,361005
基金项目:国家自然科学基金,国家高技术研究发展计划(863计划),福建省科技攻关项目
摘    要:用AlInGaN四元合金代替AlGaN作为PIN探测器的有源层,研制出AlInGaNPIN紫外探测器.详细介绍了该器件的结构设计和制作工艺,并对器件进行了光电性能测试.测试结果表明,器件的正向开启电压约为1.5 V,反向击穿电压大于40 V;室温-5 V偏压下,暗电流为33 pA,350 nm处峰值响应度为0.163 A/W,量子效率为58%.

关 键 词:AlInGaN/GaN  PIN光电探测器  紫外光电探测器

Development on AlInGaN/GaN PIN Ultraviolet Photodetectors
HUANG Jin,HONG Ling-yuan,LIU Bao-lin,ZHANG Bao-ping.Development on AlInGaN/GaN PIN Ultraviolet Photodetectors[J].Semiconductor Optoelectronics,2008,29(5).
Authors:HUANG Jin  HONG Ling-yuan  LIU Bao-lin  ZHANG Bao-ping
Abstract:
Keywords:AlInGaN/GaN
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