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不同粒径磨料对蓝宝石晶片及其抛光过程的影响EI北大核心CSCD
作者姓名:张丽萍  苗如林  沈正皓  郭立  陈庆敏  林海  李春  李建勳  曾繁明  刘景和
作者单位:1.长春理工大学130022;2.南京京晶光电科技有限公司211100;
基金项目:吉林省科技厅创新项目(20160414043GH)资助
摘    要:采用不同粒径的W28和W7碳化硼(B4C)磨料对蓝宝石晶片进行研磨和化学机械抛光。研究了不同粒径的B4C磨料对蓝宝石晶片研磨和化学机械抛光后的移除率、粗糙度、平坦度、弯曲度、翘曲度等参数的影响。结果表明:W28和W7的磨料有不同的研磨和抛光性能,在相同的加工条件下,使用W28的B4C磨料,移除速率较快,但研磨所得蓝宝石晶片的损伤层较深,单面抛光20μm不足以去除其损伤层,抛光后表面划痕较多,粗糙度较大(Ra=1.319 nm,Rt=2.584 nm),表面有明显起伏;而W7磨料的移除速率慢,研磨时间长,在单面抛光移除20μm后其损伤层全部移除,抛光所得蓝宝石晶片平坦度略佳,抛光表面平整,粗糙度较小(Ra=0.194 nm,Rt=0.361 nm),无明显起伏,表面质量相对较高,适于精修平坦度。

关 键 词:蓝宝石  碳化硼磨料  移除速率  损伤层  粗糙度
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