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故障树分析法在电子设备抗电磁脉冲可靠性分析中的应用
引用本文:高晶,孙继银,陶灵姣,柴焱杰,王波. 故障树分析法在电子设备抗电磁脉冲可靠性分析中的应用[J]. 微电子学与计算机, 2009, 26(3)
作者姓名:高晶  孙继银  陶灵姣  柴焱杰  王波
作者单位:第二炮兵工程学院,陕西,西安,710025
摘    要:应用故障树分析法,对电子设备抗电磁脉冲效应的可靠性进行了分析,建立了电子设备的简化故障树模型,在此基础上计算了电子设备在电磁脉冲作用下的可靠性参数,并讨论了各部件的概率重要度和关键重要度,结合所建的故障树给出了相应的计算结果,通过重要度分析,找到了提高电子设备可靠性的途径.

关 键 词:故障树  电子设备  可靠性  重要度

Analysis of Fault Tree in Electronic-Equipment Reliability of the Electromagnetic Pulse
GAO Jing,SUN Ji-yin,TAO Ling-jiao,CHAI Yan-jie,WANG Bo. Analysis of Fault Tree in Electronic-Equipment Reliability of the Electromagnetic Pulse[J]. Microelectronics & Computer, 2009, 26(3)
Authors:GAO Jing  SUN Ji-yin  TAO Ling-jiao  CHAI Yan-jie  WANG Bo
Abstract:
Keywords:
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