| 基于JTAG的嵌入式调试技术的研究 |
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| 引用本文： | 彭德刚,周慧玲,刘淼. 基于JTAG的嵌入式调试技术的研究[J]. 仪表技术, 2008, 0(3): 24-27 |
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| 作者姓名： | 彭德刚 周慧玲 刘淼 |
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| 作者单位： | 北京邮电大学,自动化学院,北京,100876 |
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| 摘 要： | 文章以ARM7TDMI处理器为例,详细分析了JTAG调试嵌入式处理器的工作原理,研究了JTAG下载程序的效率问题,并针对ARM处理器提出了一个具有普遍意义的高效下载程序的算法.
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| 关 键 词： | ARM JTAG 嵌入式调试 JTAG 嵌入式处理器 调试技术 研究 Based Debug Embedded 算法 意义 效率问题 程序 工作原理 分析 |
| 文章编号： | 1006-2394(2008)03-0024-03 |
| 修稿时间： | 2007-12-01 |
Research of Embedded Debug Based on JTAG |
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| PEND De-gang,ZHOU Hui-ling,LIU Miao. Research of Embedded Debug Based on JTAG[J]. Instrumentation Technology, 2008, 0(3): 24-27 |
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| Authors: | PEND De-gang ZHOU Hui-ling LIU Miao |
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