银纳米线透明导电薄膜在触控单元的应用与挑战 |
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作者姓名: | 张晓东 魏葳 杨钊 田占元 |
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作者单位: | 陕西煤业化工技术研究院有限责任公司,陕西 西安 710065;陕西煤业化工技术研究院有限责任公司,陕西 西安 710065;陕西煤业化工技术研究院有限责任公司,陕西 西安 710065;陕西煤业化工技术研究院有限责任公司,陕西 西安 710065 |
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基金项目: | 陕西省重点研发计划《高性能柔性触控用银纳米线透明导电膜中试技术研究》 |
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摘 要: | 采用卷对卷涂布机湿法涂布制备的银纳米线薄膜,其薄膜方阻可低至40Ω/□以下,在400~700 nm可见光波段透过率89%以上,环境测试性能稳定,高温高湿及抗紫外(QUV)测试,方阻变化率小于15%,耐弯折性能优异,可满足触控设备的柔性化,大尺寸化的发展需求。同时研究发现,采用黄光湿法刻蚀银纳米线薄膜,传统刻蚀液无法有效刻蚀银线。采用激光干法刻蚀时,刻蚀沟道宽度与银线长度相当,则存在沟道阻抗变化较大的问题。这些问题阻碍了银纳米线薄膜的产业化应用,需尽快解决,使银纳米线薄膜真正成为柔性化可穿戴触控设备的重要透明导电材料。
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关 键 词: | 银纳米线薄膜 低阻高透 耐弯折 刻蚀沟道 |
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