| 晶体管HFE参数的快速测试方法 |
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| 引用本文： | 马新国,李力军,王鑫.晶体管HFE参数的快速测试方法[J].电子测试,2012(12):1-4,10. |
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| 作者姓名： | 马新国 李力军 王鑫 |
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| 作者单位： | 北京自动测试技术研究所,北京,100088 |
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| 基金项目： | 北京市优秀人才培养资助(D类)项目 |
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| 摘 要： | 随着国内半导体分立器件生产规模的发展,晶体管生产厂家及使用单位对晶体管测试速度的要求越来越高,而制约测试速度最主要的因素就是HFE参数的测试速度远远达不到现在生产的需要。本文在探讨晶体管HFE参数的通用测试方法不足的基础上,提出晶体管HFE参数先进的快速测试方法。依据此方法并结合现有半导体分立器件测试系统,主要通过硬件配合在测试系统内构造出晶体管HFE参数的快速测试单元,把测试速度由原来的1000ms提高到15ms,实现了从测试方法到技术成果的转化。
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| 关 键 词： | HFE 快速测试方法 硬件配合 |
Rapid testing methods for transistors HFE parameter |
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| Ma Xinguo,Li Lijun,Wang Xin.Rapid testing methods for transistors HFE parameter[J].Electronic Test,2012(12):1-4,10. |
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| Authors: | Ma Xinguo Li Lijun Wang Xin |
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| Affiliation: | (Beijing Institute of Auto-Testing Technology,100088 Beijing) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | HFE rapid testing method the hardware and test system |
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