| 一种实现数模混合电路中ADC测试的BIST结构 |
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| 引用本文： | 李杰,杨军,李锐,吴光林. 一种实现数模混合电路中ADC测试的BIST结构[J]. 微电子学, 2004, 34(4): 466-468,472 |
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| 作者姓名： | 李杰 杨军 李锐 吴光林 |
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| 作者单位： | 东南大学,国家专用集成电路系统工程技术研究中心,江苏,南京,210096 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(60176018) |
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| 摘 要： | 针对模／数转换器(ADC)数模混合电路的测试问题，提出了一种内建自测试(BIST)的测试结构，分析并给出了如何利用该结构计算ADC的静态参数和信噪比参数。利用该方法，既可以利用柱状图快速测试ADC的静态参数，又可利用FFT技术实现对ADC频域参数的分析，使得测试电路简单、紧凑和有效。
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| 关 键 词： | ADC BIST 模／数转换器 数模混合电路 内建自测试 柱状图 |
| 文章编号： | 1004-3365(2004)04-0466-03 |
A New BIST Structure for ADC Test in Mixed-Signal Circuits |
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| LI Jie,YANG Jun,LI Rui,WU Guang-lin. A New BIST Structure for ADC Test in Mixed-Signal Circuits[J]. Microelectronics, 2004, 34(4): 466-468,472 |
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| Authors: | LI Jie YANG Jun LI Rui WU Guang-lin |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Analog-to-digital converter Mixed signal circuit Built-in self-test Histogram |
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