| 基于NI PXI平台的并行无线测试技术 |
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| 引用本文： | 姚远.基于NI PXI平台的并行无线测试技术[J].国外电子测量技术,2015,34(5):6-8. |
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| 作者姓名： | 姚远 |
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| 作者单位： | 美国国家仪器 NI 公司 |
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| 摘 要： | 无线局域网(WLAN)技术是近几年来发展最为迅猛的一项技术。尽管这项技术随着笔记本电脑、智能手机和平板电脑等个人设备的普及而快速发展，但市场调查表明这一发展势头仍将继续保持迅猛，因为WLAN技术越来越广泛地应用到更多的消费者设备中，这一个生态系统也被扩展使用到“物联网”中。不仅是WLAN服务需要得到更广泛的应用，802.11ac等新标准也将为设备提供所需的带宽来满足视频流等更高级的应用。对于设备制造商而言，这意味着测试方法也需要与时俱进才能应对制造需求的快速增长，还需要在维持相同质量水平的同时降低成本。如果采用多待测设备(DUT)测试架构，企业将可大幅缩短实现这些目标所需的时间。
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| 关 键 词： | WLAN 无线 Wifi 非信令 VSA VSG VST 制造 生产 测试 多待测设备 |
Increase Manufacturing Test Throughput with Multi-DUT Test |
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